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发现FW82801EB的损坏原因主要是电压点短路、USB失控及32KHz时钟信号点异常。通过查阅Intel FW82801EB资料及主板原理图得知，各电压点、USB点及时钟点的坐标。为了方便鉴定，将Intel FW82801EB原厂底视图整理为正视图。对照实物找出各电压点坐标,测量发现在FW82801EB芯片上定义相同的各电压点其实并不是相通的，而是分成几组。各电压点、USB点及时钟点如下：
3 R4 p! M5 n: }* D3 xVDDQ在正视图中 VDDQ在正视图中标识为：VCC1_5' Q) V# m! x; J K/ s7 b
VDDQ 电压坐标点： K10、K12、K13、L19、P19、R10、R6、H24、J19" p% E& ~9 J' W/ n) Q1 m$ s/ D$ x
5 M9 k) H1 d7 n
K19、M15、N15、N23、E15、F14、F15、W19、R12、W6、W7、W8、W9、W10、W11、E22、AA6、AB6、C24
9 f) Y: ?, E7 G$ u
6 g& r4 p+ ]% P$ x7 E: _其中：K10=K12=K13=R10=L19=H24=N23阻抗大约为：0.228（使用“ 二极管档”下同） M15=N15=K19=J19=P19=R6! s8 m* |) Z. y8 a9 D/ J
阻抗大约为：0.468- @5 e) u7 E! f9 F: o2 q
E15=F14=F15阻抗大约为：0.478
: L% ~1 s/ ^7 [0 J; k4 dW6=W7=W8阻抗大约为：0.530
1 P# _, a5 @: H. E, fW9=W10=W11=R12阻抗大约为：0.487
, q) a$ b- l, ?9 ^# c, |W19( o ^' s0 f& |
阻抗大约为：0.535$ b* L. s) T1 j7 G7 D& l
E222 H6 T: V8 ?$ ^; N1 V6 y
阻抗大约为：0.562
' t( `& D. A2 p6 U0 XAA6=AB6阻抗大约为：0.519 (图纸中标识为VCCSATAPLL)0 B+ h) C9 p4 w7 M' G6 g$ O
C24阻抗大约为：0.546 (图纸中标识为VCCUSBPLL)/ W) v7 Q! L/ \# i
VCC3.3V在正视图中标识为：VCC3_3* w. u$ ~% t: ~% i! \/ L) Z
VCC3.3V电压坐标点：B5、F6、G1、H6、K6、L6、M10、N10、P6、R13、V19、W15、W17、W24、AD13、AD20、G19、G217 V) n# _8 N3 L" U. Y
9 Q. \) u) _ @! N$ {* N
其中：B5=F6=G1=H6=K6=L6=P6=M10=N10阻抗大约为：0.536
- s, r5 j. D- B- eR13=V19=W15=W17=W24=AD13=AD20阻抗大约为：0.529 8 L0 ]6 h2 V; ?
. l, Q! \4 d R
* d5 h$ F" d3 g5 aG19=G21& s/ y+ C5 g( ~. b6 ?% n% e
阻抗大约为：0.560 " j9 U0 a; C* z! `9 r, }7 C
V3.3VSB在正视图中标识为：VCCSUS3_3/ r, [+ r, u8 A$ ^1 @; x! `
V3.3VSB电压坐标点：F18、B15、E11、F10、F11、E13、E14、U6、V6、F16、F17、E18、K15
8 i( N! A7 }9 c1 c/ U1 e7 V2 W/ u8 g
其中：F16=F17=F18=E18=B15=K15阻抗大约为：0.376 4 a' C4 R- a) A+ h1 z4 Z
K" M5 z9 T' X W( e& n
F10=F11=E111 m7 @4 `8 Q. X4 j
阻抗大约为：0.346% W' o r4 l3 V" J$ K. s- ]* O
5 R, Q8 E* J# q( O* @
E13=E143 g: j! i: a; M* d ?6 C$ ^
阻抗大约为：0.563
6 f+ |% A5 h9 t6 o. A2 X+ m# l7 o7 l% S$ p3 U$ U6 e+ L. g
U6=V6
# Y) ^3 {# P- j( E, ]' I: U8 k4 |" J阻抗大约为：0.4104 P' [; z5 k' d% x$ l
VCCP在正视图中标识为：V_CPU_IO: M' R9 d/ y" o4 L' }
VCCP电压坐标点：R15、R19、T19
) G3 z. ?, @/ {9 U9 u# M* W0 |* W7 h& [1 d5 N: Q4 x6 d, B
其中：R15=R19=T19- C. Y* P, C( |5 `6 T' r2 Y% O
阻抗大约为：0.422
$ B# h( z9 ]( R; P* M7 k+ N3 m
! A* V* p* S/ B; }1 E1 M% ]USB坐标点：C23、D23、A22、B22、C21、D21、A20、B20、C19、D19& @0 v9 `) Q1 I
$ [5 i9 |" {3 A, z1 B
A18、B18、C17、D17、A16、B162 e; v x0 W7 ]3 ^* N7 c8 a9 d3 U
USB各点阻抗大约为：0.690
3 c& a; G& }! \5 ~% x- M32KHz时钟点如下：1 u( F1 Z$ O. l0 Q: m$ N
32KHz时钟坐标点：AC11(RTCX1) 阻抗大约为：0.786 G4 m7 ]3 Z d8 r* o3 a1 Q
. m) G9 Z x7 U# _, t
AB12(RTCX2)
, M: z, C6 w: d( h9 Z1 s$ P阻抗大约为：0.772
& w* \. f5 |! ]6 o3 Y7 ]1 }8 _9 O% t6 w, n8 m
BIOS数据地址线点如下:
5 Y+ O8 n' F! F; o ~" p; S5 R# ^; Y @4 Y
0 C, g1 R3 G2 a6 K- A/ {BIOS数据地址线坐标点: T5(LAD0/FB0) R4(LAD1/FB1) R3(LAD2/FB2)
: [- c$ M' ^, ?- c- P& ? b, a
- Z/ Z' O- ^- Z" {$ r/ C* @U4(LAD3/FB3) T4(LFRAME#/FB4)' i+ L" O$ I' Y' K+ I% j
% F. }0 f) L; m# s% _1 D. f8 v
BIOS数据地址线坐标点阻抗大约为: 0.6265 a& O W/ Q N' ?
q) U* A1 P/ Y+ r二．鉴定方法：0 w2 ]! \3 `3 \2 @; K, I
将原厂底视图垂直翻转180度，得到现在的正视图，芯片的A1脚为带标识的一脚，参照FW82801EB正视图，用万用表二极管档，红表笔对地（图纸中标识为VSS即为地），黑表笔进行测量相应信号点，针对各电压点阻抗进行测量时，只需测量相同电压点一组中的其中一个即可，而对于USB及32KHz时钟所有点都要进行测量，通过以上方法电压点短路、USB失控及32KHz时钟短路均能鉴定出好坏。( P: r+ C; K" f
如遇到“不上电”、“点短路”、“压OK”、“随机死机”等类的现象，就很难处理了，只能测量相关的信号点，最后重装锡珠测试。
3 z! [2 C; w9 Q9 ^* I附件中为FW82801EB的正视图，一个为图片形式，一个是EXCEL表形式，我的阻抗是以LG万用表测量得出，如果不同型号的万用表可能测得的结果有所差异，自己测量时可以拿两个相同产地，相同批次的芯片进行对比，以上报告如有不当之处，还请各位指正。
, J" a8 V z6 c. V4 F: z' B: M4 M3 P# D
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