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发现FW82801EB的损坏原因主要是电压点短路、USB失控及32KHz时钟信号点异常。通过查阅Intel FW82801EB资料及主板原理图得知,各电压点、USB点及时钟点的坐标。为了方便鉴定,将Intel FW82801EB原厂底视图整理为正视图。对照实物找出各电压点坐标,测量发现在FW82801EB芯片上定义相同的各电压点其实并不是相通的,而是分成几组。各电压点、USB点及时钟点如下:
! r$ h0 @0 a3 _2 _+ x: OVDDQ在正视图中 VDDQ在正视图中标识为:VCC1_5) g1 E. M0 o) E8 o
VDDQ 电压坐标点: K10、K12、K13、L19、P19、R10、R6、H24、J19, H' ]& b8 i0 \: X. Q- L: O
( O. h D" K7 I: e+ n& Y! C! U
K19、M15、N15、N23、E15、F14、F15、W19、R12、W6、W7、W8、W9、W10、W11、E22、AA6、AB6、C24
1 ]+ z% d0 r) | Z
: S2 h* z9 X ]! M+ e其中:K10=K12=K13=R10=L19=H24=N23阻抗大约为:0.228(使用“ 二极管档”下同) M15=N15=K19=J19=P19=R61 q0 X& _' h: v4 @7 D) M
阻抗大约为:0.4680 Y7 n3 v$ z8 A. [
E15=F14=F15阻抗大约为:0.478 2 w9 d6 y' M3 O& ^
W6=W7=W8阻抗大约为:0.530
- ]9 F+ J1 \, w& L7 c8 g2 EW9=W10=W11=R12阻抗大约为:0.487
; d( b2 m+ D4 k* qW19
) K/ G# j$ F0 o* ]2 J阻抗大约为:0.535
0 X& i0 [' U0 L, C" {E22
( y6 @8 Y3 y( N阻抗大约为:0.562
3 r, ^3 ^8 j7 m) s7 @4 a1 KAA6=AB6阻抗大约为:0.519 (图纸中标识为VCCSATAPLL)) W* E9 L5 j2 n; Y6 `( }" X: S
C24阻抗大约为:0.546 (图纸中标识为VCCUSBPLL)
8 d0 x3 P! m$ C3 W1 K" S4 IVCC3.3V在正视图中标识为:VCC3_30 `, o5 x. D5 \' [3 l: {! ]
VCC3.3V电压坐标点:B5、F6、G1、H6、K6、L6、M10、N10、P6、R13、V19、W15、W17、W24、AD13、AD20、G19、G21
" V$ G/ B& a9 v& S, m+ m2 \' j3 l- b1 e
其中:B5=F6=G1=H6=K6=L6=P6=M10=N10阻抗大约为:0.536
- N7 w D6 v2 c- {. C! C5 s; SR13=V19=W15=W17=W24=AD13=AD20阻抗大约为:0.529
5 s% U8 M+ ?" K9 {' x8 f/ W8 @6 G' f$ Y
& m% l/ ^: B( ?# a) F9 J9 z1 d
G19=G21
; }; V& s# J. K* e" ~& L阻抗大约为:0.560
% V! R: k; T9 c8 M WV3.3VSB在正视图中标识为:VCCSUS3_3& a8 Y! H1 [! M" V. q/ R
V3.3VSB电压坐标点:F18、B15、E11、F10、F11、E13、E14、U6、V6、F16、F17、E18、K153 O W& D5 `/ G* X# _' ^
9 q! M: S1 v9 k1 P+ }其中:F16=F17=F18=E18=B15=K15阻抗大约为:0.376 8 A+ c* g! f3 c; I# g
8 n9 D$ q$ o# u2 d1 v Y
F10=F11=E11) A4 c( m, k8 D8 r' U9 l; e, O1 C
阻抗大约为:0.346% }, b( z' Q3 Q4 v: g- N4 q
- M0 n, B- `' K$ Z% k
E13=E14
; t, b2 v5 j3 f; N1 Z阻抗大约为:0.563
- Y! D8 [) @9 L$ e% ~! p/ P7 F) r
U6=V6
; V2 B2 c! {: N. | I阻抗大约为:0.410; f! \2 k; J+ G4 Z- ~
VCCP在正视图中标识为:V_CPU_IO
: }+ S0 J! q- R1 L) u) I, KVCCP电压坐标点:R15、R19、T19
$ F9 N# |. B, H/ E3 Y |: f2 A; ~& ?* g
其中:R15=R19=T19
; _# R# i; `+ R% v0 `阻抗大约为:0.422 4 j' _" P$ I8 V3 F
! I H: M( K! E2 F& AUSB坐标点:C23、D23、A22、B22、C21、D21、A20、B20、C19、D19
3 V% p6 n- I, e) B
4 N5 M/ h/ v$ y; |! L0 SA18、B18、C17、D17、A16、B160 \9 |4 m' W& Q. i5 w+ R
USB各点阻抗大约为:0.690
& E9 `: V/ A* O' @/ I7 K32KHz时钟点如下:
* w( l) k1 n( N& @& g5 d& Y# l32KHz时钟坐标点:AC11(RTCX1) 阻抗大约为:0.786
8 V1 l: S7 A4 r7 q$ s# j
0 f4 L% a) r( l2 a3 D* g5 MAB12(RTCX2); H6 N' T1 I; m7 i0 Q+ a3 Q
阻抗大约为:0.772 / U+ W& T! g2 I8 M( b" |+ E
1 Z7 n( K4 d$ L- U
BIOS数据地址线点如下:; n: {0 |" {, ]7 x( U* A) k
- \" r0 T; \ D: o5 s8 }& L1 P
; J$ m3 f' e. g- _7 SBIOS数据地址线坐标点: T5(LAD0/FB0) R4(LAD1/FB1) R3(LAD2/FB2)7 d5 j& c1 ]4 m. `! t! @
! ~2 m' C6 q8 X* _
U4(LAD3/FB3) T4(LFRAME#/FB4)# ~3 _$ z* q) M
D5 c4 Y( w+ o/ e
BIOS数据地址线坐标点阻抗大约为: 0.6262 ]! Z! V# v# h$ F) o: ~' p
$ G4 M% a8 v0 F' o+ K二.鉴定方法:1 p; Y$ R6 d7 n; T6 m- V
将原厂底视图垂直翻转180度,得到现在的正视图,芯片的A1脚为带标识的一脚,参照FW82801EB正视图,用万用表二极管档,红表笔对地(图纸中标识为VSS即为地),黑表笔进行测量相应信号点,针对各电压点阻抗进行测量时,只需测量相同电压点一组中的其中一个即可,而对于USB及32KHz时钟所有点都要进行测量,通过以上方法电压点短路、USB失控及32KHz时钟短路均能鉴定出好坏。
4 S( Q) u0 B0 f+ d1 X! b如遇到“不上电”、“点短路”、“压OK”、“随机死机”等类的现象,就很难处理了,只能测量相关的信号点,最后重装锡珠测试。1 K' Y* v7 f* k
附件中为FW82801EB的正视图,一个为图片形式,一个是EXCEL表形式,我的阻抗是以LG万用表测量得出,如果不同型号的万用表可能测得的结果有所差异,自己测量时可以拿两个相同产地,相同批次的芯片进行对比,以上报告如有不当之处,还请各位指正。
* O# }# N5 w& m: j) M" T- L0 y& }5 r8 ^
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