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1.量U口,南桥一般坏由USB引起 测USB数据阵脚/ b0 y,J# F$ X8 F' H( O
2. PCI A14对地阻值就可以判断
3. 看有没有桥明显烧伤
4. CPU供电短路,北桥坏的多, ]% _9 J( i2 I1 [
5. 是否发烫(待机烫,还是开机烫)( s9 Z% d. u8 A) [9 v7 O
6.CMOS跳线中间脚(进南桥的针)对地短路8 }- H2g$ N3 g" N8 H
7. L1117输出脚对地短路或阻值小于80欧姆7 C0 c#M; G4 L4 a
8 用阻值法,简单实用!
打到二极管档,测NB和SB 和电容阻值,正常为38左右。
南桥周围电容对地短路
一、通过检测PCI槽;AGP槽对地打阻值可判断南北桥有无损坏
1、PCI槽:对PCI槽所有的AD复合线打阻值。% B; f/O/ b0 X: N. Q
○1都为300-800之间,说明南桥好。2 A' z! t% ]2 P1 _0 ^! R)Y l1 m
○2若有无穷大“1”说明南桥虚焊。
○3若有3根或3根以上导通说明南桥损坏。
2、AGP槽:对AGP槽中所有的AD复合线打阻值。
○1都为300-800之间,说明北桥好。( W( k7 n0 Z/ ]. D
○2若有无穷大“1”说明北桥虚焊。
○3若有3根或3根以上导通说明北桥损坏。- U3 A$ @! k: b" D/ q
3、内存槽:通过对数据线D进行打阻值判断6 T1 g7P4 j* Z: M S
○1都为300-800之间,说明北桥好。
○2若有无穷大“1”说明北桥虚焊。
○3若有3根或3根以上导通说明北桥损坏。
二、对主供电部分输出电感一端或Q1场管的S极Q2场管的D极打阻值(在不插CPU或假负载的情况下)即可判断北桥的好坏。
○1在40左右数值为正常。
○2在20-30北桥有轻微的损坏。) c( l' z2 _4 ~8 Z% O
○3在10以下说明北桥损坏。2 Y) i+ `, ]) ~, M$ V
三、IDE口及USB口对地打阻值判断南桥有无损坏。8 s3 i, z3 ~& x) t2 F$u ^# `% n
1、IDE口,打2——9针 11——19针 21——29针 37——39针对地阻值。6 m1 N8h4 ]$ F0 E. p; y
○1有600左右且相差不大的数值为南桥正常。2 ], u5 G* c$i ~, C- w D) S
○2有无穷大“1”,1000以上的数值为南桥虚焊或IDE口到南桥间的小电阻烧断。 K8 A0 A2 r; Y! R;^' w
○3如阻值明显偏小为南桥损坏。" G4 L& ~# k* E; M's2 `
2、USB口打2个USB口的2针3针共四根针的阻值。2 s3 F'n8 \; ^; ]
○1如有500左右数值,说明南桥正常。
○2如有无穷大“1”说明南桥虚焊或它们间小电阻损坏。: j* W$ R% h0 J/ d. P.D& }
○3如阻值明显偏小为南桥损坏
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