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一般判断方法: 1 j7 H( `$ ^& f; I; m, R$ u; w
1。温度法9 h7 ]0 g. T% w. m2 b. ?: Z
2。关联元件测试法- _9 @& k ]. T9 m
3。周边电路电压测试法+ Q4 b! z0 i: _9 E* _; ?
北桥好坏判断方法$ p" A5 c1 Z& q# D4 e/ b4 V
一。直接打北桥上或者北桥芯片的周围电容,如果有短路,则北桥坏。* r7 l4 L' v" H6 w, w% _2 Z- h. G" l" R9 p- O
二。对主供电部分输出电感一端或Q1场管的S极、Q2场管的D极打阻值,在不插CPU或假负载的情况下,即判断北桥好坏:
# M) ?1 U% z+ P# u1。在40左右数值为正常。+ c0 i, h' D' M1 ~
2。在20-30左右为北桥有轻微损坏。5 ^0 _8 } P4 U# A, K# _2 b: K+ W; F1 R& K# q
3。在10以下说明北桥损坏。6 Q z7 L5 k% o/ v- {5 M& H
" H5 y/ U* k+ S2 ]' b+ E c0 |& a 三。内存插槽,通过对数据线进行打阻值判断,都为300-800之间数值,说明北桥好;若无穷大,说明北桥虚焊;若有3根或3根以上导通,说明北桥坏。
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+ `! q7 O t, O1 l3 m 南桥好坏判断方法; |* T! e# Y* Y: _, W
/ u2 F! }' t( y' _6 Q+ w一。IDE口:打2-9、11-19、21-29、37-39针等,对地阻值有600左右且相差不大的数值为南桥正常;如有无穷大或1000以上的数值为南桥虚焊或IDE口到NQ之间的小电阻烧断;如阻值明显偏小为南桥损坏。' B' L2 S) I5 x
二。USB口:打两个USB口的2、3针的阻值,如有500左右的数值说明南桥正常;如有无穷大说明南桥虚焊或它们到南桥之间的小电阻损坏;如有阻值明显偏小说明南桥损坏。
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快速判断南桥好坏的方法
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一。PCI(A14脚)对地阻值小于80,则南桥损坏。( D5 R& A2Y2 O% ]+ U) S' {$ r; D9 u( Y) V5 I* ` L; {
二。南桥周围电容对地阻值短路。$ O* b&~ [. {. i" u/ v% a
! U1 E$ v+ ]5 c5 ]+ v) V 三。USB数据线对地阻值短路。
' b1 Y. I8 D4 D P 四。待机时,南桥温度高。8 j( A( U2 x0 c4^/ U$ @7 Y# f" i" j7 m. J+ h7 v5 e
五。COMS跳线中间脚对地阻值短路。& o4 a( ]*R, W1 U: g8 k/ N( b7 o/ }! ^# o0 x, G4 @4 ~6 V) K$ r) B
六。1117稳压管中间脚对地阻值短路。, y) m1 R, G; |! [3 @2 x/ T5 o
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